MarSurf Wi sorozat: Pontos mérés az aló nanométeres tartományban

Orvostechnika, optika vagy félvezetőipar: Számos szakterületen extrém sima felületekre van szükség, hogy a lencséknek, chipeknek és implantátumoknak megfelelő tulajdonságaik legyenek. Ezért azok gyártása költséges, és azokat a laboratóriumokban és a gyártó minőségbiztosítási folyamataiban aprólékos vizsgálatoknak vetik alá. Mivel ezen felületek érdessége a szubnanométeres tartománytól függ, a fehér fény interferometria mérési módszer a legjobb választás.

A Mahr három új fehér fényű interferométere egyedülálló ICA („Intelligent Correlation Algorithm”) technológiával rendelkezik. Az ICA technológia lehetővé teszi a magasságérték nagyon jó meghatározását, a legjobb adatminőség elérését és a csak 80 pm minimális jelszint mérését. A mérési adatokat néhány másodperc alatt szállítja. Ez a következőket jelenti a felhasználó számára: Nagy pontosságú topográfiai adatok és felületstruktúrák nagyon nagy függőleges felbontásnál.

A Mahr új fehér fényű interferométer sorozata három készüléket foglal magában:

• A manuális MarSurf WI 50 M, a mindentudó bevezető megoldás igényes mérési feladatokhoz
• A MarSurf WI 50 nagypontosságú mérőeszköz kutatáshoz és minőségirányításhoz
• Az automatizálható MarSurf WI 100 bővített Z tengellyel rendelkező profi készülék a különösen nagy munkadarabokhoz

A pontosság mellett a három készülék a nagy munkadarabokhoz szükséges nagyon nagy pozicionáló volumennel és intuitív felhasználói szoftverrel tűnik ki, amit a Mahr ügyfelei más optikai rendszerekből már ismernek és értékelnek. Ennek segítségével a laboratóriumok és minőségbiztosítások a nanométeres tartományban meg tudják mérni a legkisebb érdességet, fokmagasságot vagy szintet, ráadásul néhány másodperc alatt.