MarSurf3D | FlÀchenhafte 3D-Messung

MarSurf3D CM plus explorer 100

Art.-Nr. 6350027

Die neue MarSurf CM explorer-Serie sind die ultimativen Konfokalmikroskope, mit denen Sie OberflĂ€chen dreidimensional prĂ€zise messen und analysieren können – berĂŒhrungsfrei, materialunabhĂ€ngig und schnell.

MarSurf3D CM <i>plus explorer</i> 100<br/>
Flexible Allround-Messlösung

Die leistungsstarken MarSurf CM-GerĂ€te stehen fĂŒr eine zuverlĂ€ssige Messung auf allen OberflĂ€chen – Anwendern bieten sie eine hohe Auflösung bei maximaler Robustheit, Flankenakzeptanz und Dynamik.
DarĂŒber hinaus erlauben die State-of-the-Art-Tools ultraschnelle Messungen (bis zu 4x schneller als vorher) mit großer Messpunktdichte, die fĂŒr hochqualitative und ungefilterte Rohdaten sorgen.
Durch die Auswahl der Variante CM explorer oder CM plus explorer fĂŒr höchste AnsprĂŒche kann das System an Ihre Applikation angepasst werden mit bis zu 2x besserer Wiederholgenauigkeit und Messunsicherheit.

Typische Messaufgaben
  • Rauheitsmessungen nach
    ISO 21920 / 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
  • Topografiemessungen (u.a. Volumen, Verschleiß, Tribologie)
  • Kontur und Form (2D, 3D)
  • Poren-, Partikelanaylse
  • Defekt-Detektion
  • ...
Höchstmaß an DatenqualitĂ€t

Eines unserer wichtigsten Kriterien, das bedeutet exzellente PrĂ€zision, Genauigkeit, Wiederholgenauigkeit, Reproduzierbarkeit und Dokumentation fĂŒr RĂŒckfĂŒhrbarkeit und Auditierbarkeit. Unsere grĂ¶ĂŸte Leistung fĂŒr den Kunden ist ein quantitativer Messwert, auf den er sich in den Bereichen Engineering, Produkt- und Prozessdesign, QualitĂ€tskontrolle usw. verlassen kann.
MarSurf3D CM plus explorer 100
| Art.-Nr. 6350027
ObjektivvergrĂ¶ĂŸerung 5x - 100x
max. Probengewicht 10 kg
Lichtquelle Hochleistungs-LED (505 nm / weiß)
Probenhöhe 70 mm (mehr auf Anfrage)
ProbenoberflÀche ReflektivitÀt 0,1 - 100% beschichtet, unbeschichtet, spiegelnd bis diffus
Messrauschen (Piezomodul) 1 nm
Messrauschen (Verstelleinheit) 5 nm
Positioniervolumen x 100 mm
Positioniervolumen y 100 mm
Positioniervolumen z 70 mm
Sprachen: Deutsch , Englisch , Französisch , Italienisch , Spanisch , Portugiesisch , Polnisch , Russisch , TĂŒrkisch , Chinesisch , Japanisch , Koreanisch
ErgÀnzung zu Positioniervolumen x y z Erhöhung z-Positioniervolumen auf Anfrage

VielfÀltige Anwendungsgebiete unseres Produktes

Maschinenbau
Rauheit, Geometrie und Verschleißvolumen qualifizieren und quantifizieren

Elektronik und Halbleiter
Bauteilinspektion bis in den Submikrometerbereich fĂŒr fehlerfreie Produkte

Medizintechnik
QualitÀtssicherung von medizintechnischen OberflÀchen in Produktion und Labor

Materialwissenschaft
Optimierung von Funktionseigenschaften neuer OberflÀchen und Produkte

Mikrosystemtechnik
Komplexe OberflÀchengeometrien von kleinsten Bauteilen nanometergenau vermessen
Richtig, reproduzierbar Messen
Ihre Messdaten werden zuverlÀssig und wiederholbar erfasst und gewÀhrleisten höchste RohdatenqualitÀt und Profiltreue.
Breites WerkstĂŒckspektrum
MaterialunabhÀngige Messung beliebiger Geometrien und OberflÀchenbeschaffenheiten egal ob spiegelnd, absorbierend, opak oder transparent.
Intuitive Handhabung
Einfache benutzergefĂŒhrte OberflĂ€che mit Automatiken fĂŒr alle wesentlichen Messparameter, sowie Nutzung von Messrezepten fĂŒr bekannte OberflĂ€chen.
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